GB/T 31838.3  固體絕緣材料  介電和電阻特性  第3部分：電阻特性（DC）方法 表面電阻和表面電阻率。

   GB/T 10006  塑料  薄膜和薄片  摩擦系數測定方法；

   GB/T 16578.2  塑料  薄膜和薄片  耐撕裂性能的測定  第2部分：埃萊門多夫（Elmendor）法；

   所需儀器精度如下：

   GB/T 25915.1-2010  潔凈室及相關受控環境  第1部分：空氣潔凈度等級；

概述從薄膜卷上取樣時，應至少先剝去最外3層薄膜，并按有關性能的要求制樣。

   根據GB/T6672，用立式光學計或其他合適的測厚儀測量單張試樣的厚度。

 結果GB/T 13542.6  電氣絕緣用薄膜  第6部分：電氣絕緣用聚酰亞胺薄膜；

   GB/T 10582  電氣絕緣材料  測定因絕緣材料引起的電解腐蝕的試驗方法；

   厚度應按GB/T 13542.3、GB/T 13542.4、GB/T13542.6以及其他有關產品標準的要求采用下列規定中的一種或幾種方法進行測定。

預處理條件機械法

   GB/T 11026  （所有部分）  電氣絕緣材料  耐熱性；

   GB/T 31838.2  固體絕緣材料  介電和電阻特性  第2部分：電阻特性（DC）方法 體積電阻和體積電阻率；

   沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜（當膜卷寬度小于400mm時，可適當多取幾條），試樣不應有皺折或其他缺陷。單層法疊層法

   按GB/T 451.3  對疊層厚度進行測量，與多片測量結果不同。薄膜疊層試樣數量為四個，每個疊層試樣由12層薄膜組成。其制備方法如下：從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時切取，并沿薄膜樣條的長度方向纏繞于潔凈的樣板（尺寸宜為：250mm×200mm，其中200mm為板的長度方向尺寸）。在測量之前去掉疊層的最外層和最內層（實際測量10層），再進行測量。厚度測量儀器

   GB/T 7196  用液體萃取測定電氣絕緣材料離子雜質的試驗方法；

   GB/T 20631.2-2006  電氣用壓敏膠粘帶  第2部：試驗方法；

   GB/T 10580-2015  固體絕緣材料在試驗前和試驗時采用的標準條件；

   除非產品標準或本文件中個別試驗另有規定外，制樣前，樣品薄膜卷應在23℃±2℃，相對濕度50%±5%的條件下至少放置24h。取好的試樣應在該條件下處理1h。

   取測量值的中值作為試驗結果，并報告最大值和最小值。

   GB/T 6673  塑料薄膜和薄片長度和寬度的測定；

   GB/T 13542.4  電氣絕緣用薄膜  第4部分：聚酯薄膜；

 GB/T 6672  塑料薄膜和薄片厚度測定  機械測量法；

   GB/T 13542.3  電氣絕緣用薄膜  第3部分：電容器用雙軸定向聚丙烯薄膜；

   GB/T 22689  測定固體絕緣材料相對耐表面放電擊穿能力的推薦試驗方法；

   ——薄膜厚度<15μm時，精度不低于0.2μm；

測量 GB/T 19466.3  塑料  差示掃描量熱法（DSC）  第3部分：熔融和結晶溫度及熱焓的測定；

   疊層試樣測量厚度除以10，得到單層薄膜厚度，取其平均值作為試驗結果，并報告最大值和最小值。

   千分尺：精度為1μm，直徑為6mm的平面測帽，測量壓力為6N~10N。

試驗條件

   GB/T 20220-2006  塑料薄膜和薄片  樣品平均厚度、卷平均厚度及單位質量面積的測定  稱量法（稱量厚度）；

   在試樣上等距離共測量9點，試樣寬不小于300mm，沿試樣長方向兩測量點間不少于50mm。對未切邊的卷，測量點應離薄膜邊緣50mm；對已切過的卷，測量點應離薄膜邊緣2mm。試驗一般說明

   薄膜厚度小于100μm時，用立式光學計或其他合適的測厚儀測量。采用直徑為2mm的平面測帽或曲率半徑為25mm~50mm的球面測帽。測量壓力為0.5N~1N。薄膜厚度≥100μm時，可用千分尺測量。

結果測量測量儀器

取樣

   本文件沒有需要界定的技術和定義。

   ——薄膜厚度≥15μm但<100μm時，精度不低于1μm；

概述——薄膜厚度≥100μm時，精度不低于2μm。

   給出兩種方法，一種用單層法，另一種用疊層法。

   除非產品標準或本文件中個別試驗另有規定，試驗應在溫度23℃±2℃、相對濕度50%±5%、環境潔凈度≤10000級（按GB/T25915.1-2010中ISO7級要求，關注0.5μm粒徑）的條件下進行。

   按GB/T6672的規定，用合適的平面或球面測帽的測厚儀，測量試樣的厚度。

原理GB/T 16578.1  塑料  薄膜和薄片  耐撕裂性能的測定  第1部分：褲形撕裂法；